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Untersuchung aktiver Schichten organischer Solarzellen mittels Röntgenstreuung unter streifendem Einfall (GISAXS, GIWAXS) und XRR (X-ray reflectometry) 

 

 

 

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Prof. Dr. Tobias Unruh

  • Organization: Institute of Condensed Matter Physics
  • Working group: Professur für Nanomaterialcharakterisierung (Streumethoden) im Rahmen des Exzellenzclusters EAM (Prof. Dr. Unruh)
  • Address:
    Staudtstr. 3
    Room 01.025
    91058 Erlangen
  • Phone number: +49 9131 85-25189
  • Email: tobias.unruh@fau.de