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Untersuchung aktiver Schichten organischer Solarzellen mittels Röntgenstreuung unter streifendem Einfall (GISAXS, GIWAXS) und XRR (X-ray reflectometry) 

 

 

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Prof. Dr. Tobias Unruh

Institute of Condensed Matter Physics
Professur für Nanomaterialcharakterisierung (Streumethoden) im Rahmen des Exzellenzclusters EAM (Prof. Dr. Unruh)

Room: Room 01.025
Staudtstr. 3
91058 Erlangen